X-ray diffraction microscopy

...The resolution is about 0.1 μm.
[X-ray diffraction microscopy (projection method)]
Also known as X-ray topography. A diffraction photograph is taken so that points on the crystal correspond one-to-one with points on the photosensitive material, and information on crystal defects, etc. is obtained from the distribution of light and dark.

*Some of the terminology used in reference to "X-ray diffraction microscopy" is listed below.

Source | Heibonsha World Encyclopedia 2nd Edition | Information

…分解能は0.1μm程度である。
［X線回折顕微法(投影法)］
　X線トポグラフィーともいう。結晶上の点と感光材料上の点が1対1に対応するように撮った回折写真を光学的に拡大し，濃淡分布から結晶の欠陥などの情報を得る。…

※「Ｘ 線回折顕微法」について言及している用語解説の一部を掲載しています。

出典｜株式会社平凡社世界大百科事典 第２版について | 情報